前言

闪迪旗下的固态硬盘加强版英文型号为SSD PLUS，其实早在13年这款产品的第一代就已经诞生，虽然当年定位于中低端入门级产品，不过现在看来当年的定价一点不低端，256G 1499的价格放在今天已经可以买到512G的旗舰产品了。

全新推出的闪迪旗下的固态硬盘加强版严格意义上算是第二代产品，不过闪迪并没有给他在型号上加一个“II”，依旧沿用了之前的命名方式，定位依然入门级，价格嘛终于是便宜了不少，240G售价只有489元。

对此盘进行了速度和稳定态方面的评测，这次对该盘的寿命进行一次严格深度测试。

第一章 产品外观



“闪迪固态硬盘加强版”这个翻译总给人感觉有点生硬，如果用英文或者更好理解一些。

SSD PLUS包装采用正面红背面白的风格。


入门级产品提供三年保修


附件是一个7MM-9.5MM转换支架，一份纸质说明书，一张保修卡。转换支架带3M背胶，可以牢固的粘连在SSD上。


SSD主体倒是闪迪一贯的风格，万年不变


开盘螺丝在贴标的四角，拧掉即可开盘。

第二章 拆解以及芯片图解

特别感谢女浴室从澳洲买了这个盘拆了给我看，避免了我这个盘失去保修，再三感谢下这位仁义MM。

PCB其实很小，正面有SM2246XT主控一颗，SANDISK 05446 064G MLC NAND两颗。


背面还有SANDISK 05446 064G MLC NAND两颗。闪迪的颗粒的信息是必须通过颗粒上的二维码去识别的，可惜我们手上没有这么小的扫描器可以扫描NAND。为什么那么肯定是MLC颗粒呢，因为2246XT仅支持SLC和MLC颗粒并不支持TLC，所以颗粒方面一定会是MLC的。闪迪颗粒编号是无迹可寻的，除非去扫描二维码，要不就不知道闪迪的颗粒具体信息。


SM2246XT主控是由慧荣设计流片，设计就是没有DRAM缓存。

单核55NM的RISC 32位CPU，四通道4CE支持度，看起来规格一般。并没有2246EN出彩。


SATA6G接口规范，4通道设计。

第三章 ECC BCH算法的P/E寿命评估

测试平台：联想K29笔记本
CPU INTEL I7 3612QM
主板 HM77
内存 镁光1600 C11 8GBX2
SSD 建兴M6M 128GB（系统）
SSD SANDISK SSD PLUS 240GB
显卡 INTEL HD4000
系统 WIN7 SP1 X64旗舰版
驱动 IRST 13.6开启电源节能方式测试，更贴近用户的日常使用模式，毕竟没几个人一天到晚喜欢空耗电而为了测试SSD多那么几十分。


SANDISK的TOOLSBOX已经能完美识别该盘


打开驱动器详细信息，会看到一些有意思的信息


比如这个：该盘的ECC机制是32BIT/512B BCH算法。

设最大纠错能力为t

东芝A19NM MLC颗粒的基础出厂的3000PE的要求是40BIT/1KB

如果选用1KB就是8192bit的原始数据长度，则模式为BCH（16383，16383－14×t，t，14）校验数据长度就是14×t，例如

40Bit/1024Byte ECC, 此时需要14x40bit=560bit=70Byte

控制器写数据到NAND Flash时，每1024Byte数据经过BCH模块就会生成70Byte的校验数据

以假设TH58TEG8DDKBA8C的东芝A19 MLC颗粒使用40bit/1KByte BCH方式的ECC为例，控制器写数据到NAND Flash时，每1024Byte数据经过BCH模块就会生成70Byte的校验数据，这些数据一起写入到NAND Flash中。控制器从NAND Flash中读取数据的时候需要将原始数据和校验数据一起读出经过BCH模块，BCH模块计算伴随矩阵首先可以判断出是否出现了错误，如果出现了错误需要计算错误位置多项式，然后解多项式，得到错误位置（目前主要使用Chien-search方法），因为是位错误，找到错误的位置以后取反以后就是正确的数据。只要是错误个数小于等于40，BCH都能够找到错误的位置，但是如果错误个数超过了40，对于BCH来说已经没有办法纠正错误了，只能报告出现了不可以纠正的情况。

如果选用512B就是4096bit的原始数据长度，则模式为BCH（8191，8191－13×t，t，13)校验数据长度就是13×t

32Bit/512Byte ECC，此时需要13X32bit=414bit=52Byte

控制器写数据到NAND Flash时，每512Byte数据经过BCH模块就会生成52Byte的校验数据。

以假设闪迪05446 064G MLC颗粒使用32bit/512Byte BCH方式的ECC为例，控制器写数据到NAND Flash时，每512Byte数据经过BCH模块就会生成52Byte的校验数据，这些数据一起写入到NAND Flash中。控制器从NAND Flash中读取数据的时候需要将原始数据和校验数据一起读出经过BCH模块，BCH模块计算伴随矩阵首先可以判断出是否出现了错误，如果出现了错误需要计算错误位置多项式，然后解多项式，得到错误位置（目前主要使用Chien-search方法），因为是位错误，找到错误的位置以后取反以后就是正确的数据。只要是错误个数小于等于32，BCH都能够找到错误的位置，但是如果错误个数超过了32，对于BCH来说已经没有办法纠正错误了，只能报告出现了不可以纠正的情况。

从ECC BCH算法来说，32BIT/512B貌似更严苛一些，P/E磨损高了，出错率超过20bit/512B的时候，40BIT/1KB也许就无法纠错了，但是32BIT/512B依然可以继续纠错。

所以闪迪没有选用东芝一样的40BIT/1KB ECC 可能有几个原因：

1、闪迪对自己的MLC貌似非常有信心，毕竟和东芝同厂品质。

2、闪迪对ECC要求更高，对低端产品的寿命和PE更加重视。

根据以上信息判断，闪迪这个MLC的寿命非常可能是大于3000PE的，不然不会使用这样的ECC机制。

第四章 暴力写入推算寿命

我使用IOMETER 1.1对这块盘在NTFS格式下进行1M QD32的随机暴力写入，时间设定是6小时一次，我连续跑2次就是12小时。

IOMETER 1.1设定如下

跑完12H之后，我们在来看看各种SMART信息有什么变化，是否各种SMART软件具有一致性

SMI自家的TOOLBOX  的E6=已使用的官标寿命百分比，这里寿命依然是100%，但是后面的数据出现了1，这代表损耗1%

AD=平均P/E记数，这里也是100%，但是后面数据出现了38，意思损耗38P/E。

CDI软件检测的AD和E6数据是和SMI TOOL BOX一致的

再来看看SANDISK TOOLBOX的SMART信息，确实代号230的介质损耗0.01%。

结论：以上三个软件得出一致的结论，说明软件对该盘的检测具有高度的一致性。这12小时跑下来得到的结论是什么呢？

AD=P/E=38，E6=P/E百分比=1。计算磁盘的出厂PE最大值设定=（AD/E6）X100 =3800P/E，

因为PE损耗的太慢了太少了，这个E6最小值就是1，但是根据软件的四舍五入实际有可能是0.5～1.4之间，所以3800P/E的寿命还是比较粗略的判定，最好最坏的情况是什么呢，我们也需要计算一下：

AD=P/E=38，E6=P/E百分比=0.5 。计算磁盘的出厂PE最大值设定=（AD/E6）X100 =7600P/E，

AD=P/E=38，E6=P/E百分比=1.4 。计算磁盘的出厂PE最大值设定=（AD/E6）X100 =2714P/E，

这个盘经过12小时的持续写入之后，得到的数据反馈的寿命范围在2714~7600P/E。当然我们如果继续测试下去，会进一步缩小这个范围，我决定继续跑IOMETER1.1的写入以求得更真实的数据，又继续跑了4轮，就是24小时。

AD=P/E=131，E6=P/E百分比=4。计算磁盘的出厂PE最大值设定=（AD/E6）X100=3275P/E，

那么最好最差的结果是什么呢？E6=3.5～4.4

AD=P/E=131，E6=P/E百分比=3.5。计算磁盘的出厂PE最大值设定=（AD/E6）X100=3742P/E

AD=P/E=131，E6=P/E百分比=4.4。计算磁盘的出厂PE最大值设定=（AD/E6）X100=2977P/E

这个盘经过36小时的持续写入之后，得到的数据反馈的寿命范围在2977~3742P/E。当然我们如果继续测试下去，会进一步缩小这个范围，但是结果已经很明显了，根据SMI TOOL BOX所表现的数据才是相对真实可靠的。

结论：3275P/E 才是最接近可信的这块盘的真实寿命

写放大倍数的计算公式是AD*SSD容量/F1

显示F1=9114GB的写入量是主机写入的.

131X240GB/9114GB=3.45,是我使用时候的计算的写放大倍数，这个数据属于正常的，

因为对于当前很多使用SLC CACHE的SSD来说，每写1bit SLC就相当于写2bit mlc，模拟出来的SLC空间写满后需要把SLC变回MLC再把SLC中的数据写回到MLC中，这又要写1bit MLC，因此每写1bit数据就会造成3bit闪存的写入，写入放大至少是3。

所以闪迪SSD PLUS的写放大倍数3.45只能说一般，不算高。

总结

我这36小时的1M QD32 随机写入是相对最暴力的测试方式了，普通用户一年不关机的使用都不见得比得上这个测试对寿命的消耗。

当然也不建议普通用户做如此暴力的测试。

1、32BIT/512B 的ECC BCH算法确实有独到之处，给颗粒寿命加了一层高级魔法盾，在我们后面的PE测试中，这个算法也确实保证了寿命在3000 P/E以上。高于普通MLC颗粒的寿命平均水平。

2、36小时的1M QD32 随机写入让我们从SMART信息中推算出了该盘的PE在3275 P/E左右，考虑到软件计算四舍五入偏差我们计算了一个范围2977～3742P/E之间为该盘的MIN~MAX的表现区间。

3、SM2246XT的主控设计就注定了这盘只能兼容SLC和MLC，天生和TLC水土不服。所以这个盘最大的好处是不必担心买到TLC颗粒和白片，闪迪的正片MLC质量还是比较有保证。

4、该盘效能平平的表现和极其强悍的使用寿命形成了巨大反差，如果你不追求极致的速度，又搞不懂市场上繁杂的SSD颗粒，只想稳定用个3-5年的话，SSD PLUS可能是一个性价比较高的入门级选择。

下面放出上次我测试过的一些基本速度数据作为结束。

240G售价只有489元?  降价得真心快呀, 一年前大部份的240G都还在800元以上捨不得买, 看來现在我等窮人也可以入手一个來玩一玩了.

固态盘由主控和储存颗粒组成。一片颗粒出厂检测，存储空间或者性能不到要求的变成白片，惨一点的有几个坏道的变成黑片，更惨的直接拿爪子勾五条横杠，花片，也就所谓的报废片。正片很贵，白片黑片很便宜，按斤卖，买回去，人工一个一个检测，拿出能用的，屏蔽掉坏道，凑够内存数，咱们也做固态盘吧。目前市面上主流的SSD主要使用两种主控，SandForce 和 Marvell 的9184， SF的主控实际上很多都已经烂大街了，Marvell 主要是Lighton和Micron，相对来说Micron的口碑（业界）还是不错的，毕竟镁光是自己原厂的Flash支持，相对来说价格和固件开发稳定性上比较有保证。Light on（品牌浦科特）也是不错的，最新上市的M5S号称有True Speed功能，但是这个实际上是主动的GC（垃圾回收），消耗Flash的寿命的。